| 标准号 | GB/T 43035-2023 关注 |
| 中文名称 | 半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求 |
| 英文名称 | Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination |
| 发布日期 | 2023-09-07 |
| 实施日期 | 2023-09-07 |
| 全文上线日期 | 2024-03-26 00:00:00 |
| 页数 | 23 |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院 |
| 起草人 | |
| 归口单位 | |
| 中国标准分类 | |
| 国际标准分类 | |
| 摘要 | 本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。 |
| 适用范围 | |
| 关键词 | |
| 标准状态 | 有效 |
| 相关公告 | |
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