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SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南
标准号 SJ/T 11699-2018 关注
中文名称 IP核可测性设计指南
英文名称
发布日期 2018-02-09
实施日期 2018-04-01
全文上线日期 2018-03-21 14:57:03
页数 0
起草单位
起草人
归口单位
中国标准分类
国际标准分类
摘要 本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
适用范围 本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
关键词
标准状态 有效
相关公告 IP核可测性设计指南
全文下载链接 PDF(76M)      
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