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SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
标准号
SJ/T 11702-2018
关注
中文名称
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
英文名称
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
全文上线日期
2018-03-21 14:59:40
页数
0
起草单位
起草人
归口单位
中国标准分类
国际标准分类
摘要
本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。
适用范围
本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
关键词
标准状态
有效
相关公告
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
全文下载链接
PDF(76M)
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