| 标准号 | SJ/T 11704-2018 关注 |
| 中文名称 | 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 |
| 英文名称 | |
| 发布日期 | 2018-02-09 |
| 实施日期 | 2018-04-01 |
| 全文上线日期 | 2018-03-21 15:00:54 |
| 页数 | 0 |
| 起草单位 | |
| 起草人 | |
| 归口单位 | |
| 中国标准分类 | |
| 国际标准分类 | |
| 摘要 | 本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。 |
| 适用范围 | 本标准适用于高频数字微电子封装。 |
| 关键词 | |
| 标准状态 | 有效 |
| 相关公告 | 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 |
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